DuraSiC® EJBS™
DuraSiC®系列是蓉矽半导体的更高可靠产品系列，严格按照 NovuSuperior（AEC-Q101+）标准考核验证。
产品介绍：DuraSiC®EJBSTM系列在wafer阶段严格按照WLTBI (Wafer-Level Test & Burn-In)测试标准筛选，以在晶圆阶段发现具有潜在缺陷的不合格合格芯片。封装成品严格依照NovuSuperior（AEC-Q101+）标准进行考核验证，通过HV-H3TRB加严可靠性考核，是蓉矽半导体符合车规级以上要求的重要的高可靠产品。
产品亮点：符合NovuSuperior超业界标准考核标准；高可靠性和高性能表现；低导通压降(VF)；低反向漏电(IR)；零反向恢复电流；高抗浪涌能力；最高工作结温温度为175℃。
