可靠性百科 | 加速寿命试验
[ 来源:蓉矽半导体 时间:2023-02-24 阅读:5216次 ]
何为“加速寿命试验”
加速寿命试验(Accelerated Life Testing,ALT)是通过加强应力,并结合物理失效规律相关的统计模型,在短时间内预测出产品在正常应力下的寿命特征的一种试验方法。
常用的加速寿命试验类型
加速寿命试验的意义:
1)缩短寿命试验周期;
2)结果可用于电子产品可靠性评价、制定可靠性筛选依据;
3)结合失效分析,可以找到可靠性失效短板;
常用的加速应力
加速试验中的应力为广义概念,包含产品寿命期内对产品寿命造成影响的所有条件,常用的应力有:
1)热应力(如温度);
2)电应力(如电压、电流、功率);
3)湿应力(如湿度);
4)化学环境(如气体浓度、盐度);
5)机械应力(如振动、摩擦、压力、载荷、频率);
6)辐射。
截尾寿命
定义:一种将投试验品试验到部分失效就停止,并且通过已知的失效数据进行统计分析推导出完整寿命分布的实验方法。
分类:定时截尾寿命试验 & 定数截尾寿命试验
意义:缩短试验时间
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