DuraSiC® EJBS™
DuraSiC®は、蓉矽半導体のより高い信頼性を持つ製品シリーズで、NovuSuperior（AEC-Q101+）規格に従って厳格に検証され。
製品情報：DuraSiC®EJBSTMシリーズは、ウェーハ段階でWLTBI（(Wafer-Level Test & Burn-In）テスト基準に従って厳格に検証され、前もって潜在欠陥を持つチップを見付けることができます。パッケージング完成品は、AEC-Q101より厳しいNovusuperior基準に従って検証され、蓉矽半導体の車載用レベル以上の要件を満たすまた高信頼性を持つ大事な製品です。
製品ハイライト：
▪ 業界トップレベルより厳しいNovusuperior規格に適合
▪ 高い信頼性と優れた性能
▪ 低導通電圧降下（VF）
▪ 低逆方向リーク電流（IR）
▪ ゼロ逆回復電流
▪ 高アンチサージ能力
▪ 175℃の高動作温度
